低介电常数测试桌
低反射泡沫测试桌由低介电常数（εr≤1.15）支撑材料制作，此款泡沫测试材料在广泛的频率范围内具有低介电常数、低介电损耗，具有良好的绝缘性，表面采用刻度尺板覆盖，在中心位置设计有供EUT 连接电缆的通孔，也可根据测试需求，辅助设备及EUT摆放，定制尺寸及槽位大小。
低反射测试桌的特性如下：
相对介电常数：εr≤1.15
相对磁导率： μr≤1.4
适用标准： ANSI 63.4 / CISPR 16 and similar/relative standards
加工公差： ±3mm
承重：>100kg 尺寸1800*1000*800mm
抗压强度：3.2 kg/cm2
耐温：-60℃ - +150 ℃
建议用途： 在测试中用来支撑DUT 和承重
低反射测试桌的特性如下：
相对介电常数：εr≤1.15
相对磁导率： μr≤1.4
适用标准： ANSI 63.4 / CISPR 16 and similar/relative standards
加工公差： ±3mm
承重：>100kg 尺寸1800*1000*800mm
抗压强度：3.2 kg/cm2
耐温：-60℃ - +150 ℃
建议用途： 在测试中用来支撑DUT 和承重