1997年，国际电工委员会IEC第47A技术分委会下属的第9工作组（WG9）对各种已建议的测试方法进行分析，最终出版了针对组部件级的集成电路的EMC测试相应的EMI测试标准IEC 61967系列和EMS测试标准IEC 62132系列。脉冲抗扰测试标准IEC62215也随着出版，与IEC62132互补，国内也相应发布了YD/T1690系列标准，更加全面地考虑到了模拟集成电路遭受电磁干扰时的情形。
    集成电路电磁兼容测试标准，主要有：
    IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试）
    IEC 62132（用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试）
    YD/T1690(用于150kHz到1GHz的电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法)
    IEC 62215：包括以下三部分——第一部分：通用条件和定义；第二部分：传导抗扰度测量方法—同步脉冲注入法；第三部分：传导抗扰度测量方法—随机脉冲注入法(参考IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-4) 。

1.系统方案配置：
集成电路静电放电测试系统
符合标准：
国际 IEC 62132；
系统包含：
Langer ESD发生器、猝发电站、分流器 静电放电磁场原、测试配件（例如：电缆、电脑）、测试软件等等；
2.用于集成电路脉冲抗扰度测试系统
符合标准：国际IES 62215
系统包含：
EFT/猝发磁场源、EFT猝发电场源、db/dt场测试系统、EPM 02、测量电缆、测试软件、测试配件、等等；
3.集成电路射频耦合测试系统
符合标准：
国际IES 61967
系统包含：
DPI耦合网络（~3GHz，50V/~1GHz，50V）、高频电场源/高频磁场源（~3GHz）、SMA-SMA 1m ds、db/dt场测试系统、测试软件、测试配件、测试电缆、测试电脑、等等； 4.TEM小室辐射发射测量系统
符合标准：
电磁发射测试标准IEC 61967
电磁发射测试标准YD/T1690
系统包括：
接收机/频谱分析仪、计算机、测试软件、前置放大器、TEM小室、IC测试板、50Ω负载。
5.表面扫描辐射发射测量系统
符合符合标准：电磁发射测试标准IEC 61967、YD/T 1690
系统包括：梳状型号发生器、高精度摄像机、计算机、高精度传感器、高精度三轴摆臂或者四轴摆臂、测试软件、IC测试板、探针。同时可以进行液晶模组、线路板的近场EMI扫描。