集成电路产业是我国高新技术产业的一个重要部分，它带动了其它产业的蓬勃发展，集成电路已成为各个行业中电子、机电设备智能化的核心，起着十分重要的作用。越来越多的人认识到了集成电路IC对电子工业的重要性，对集成电路的设计和生产的投入也越来越大。集成电路的电磁兼容也同样重要。
    由于集成电路的电磁兼容在国内是一个相对较新的学科，但早在1965年美国军方就已对核爆电磁场对电子元器件的影响做出了研究，在随后的几十年里，各种仿真模型，测试方法和统计结果不断涌现，在集成电路的电磁兼容领域积累了大量的理论基础和可供分析的实测数据。
    1997年，国际电工委员会IEC第47A技术分委会下属的第9工作组（WG9）对各种已建议的测试方法进行分析，最终出版了针对组部件级的集成电路的EMC测试的相应的EMI测试标准IEC 61967系列和EMS测试标准IEC 62132系列。标准IEC62215也已出版，与IEC62132互补，国内也也相应发布了YD/T1690更加全面地考虑到了集成电路遭受电磁干扰时的情形。
    集成电路电磁兼容测试标准，主要有：
    电磁发射测试标准IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试）
    电磁发射测试标准YD/T1690(用于150kHz到1GHz的电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法)
    电磁抗扰度标准IEC 62132（用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试）
    脉冲抗扰度标准IEC 62215

• IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射 测试，包括以下六个部分：
• 第一部分：通用条件和定义（参考SAE J1752.1）
• 第二部分：辐射发射测量方法——TEM小室法（参考SAE J1752.3）
• 第三部分：辐射发射测量方法——表面扫描法（参考SAE J1752.2）
• 第四部分：传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法
• 第五部分：传导发射测量方法——法拉第笼法WFC
• 第六部分：传导发射测量方法——磁场探头法

• TEM小室辐射发射测量系统
• 符合标准：
• 电磁发射测试标准IEC 61967
• 电磁发射测试标准YD/T1690
• 系统包括：
• 接收机/频谱分析仪、计算机、测试软件、EMI前置放大器、TEM小室、IC测试板、50Ω负载。

• 表面扫描辐射发射测量系统
• 符合符合标准：电磁发射测试标准IEC 61967
• 电磁发射测试标准YD/T1690
• 系统包括：梳状型号发生器、高精度摄像机、计算机、高精度传感器、高精度三轴摆臂或者四轴摆臂、测试软件、IC测试板、探针

• IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分：
• 第一部分：通用条件和定义（参考SAE J1752.1）
• 第二部分：辐射发射测量方法——TEM小室法（参考SAE J1752.3）
• 第三部分：辐射发射测量方法——表面扫描法（参考SAE J1752.2）
• 第四部分：传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法
• 第五部分：传导发射测量方法——法拉第笼法WFC
• 第六部分：传导发射测量方法——磁场探头法

• 1Ω/150Ω直接耦合法传导发射测量系统
• 符合符合标准：电磁发射测试标准IEC 61967
• 电磁发射测试标准YD/T1690
• 系统包括： 1Ω电流探头、150Ω电压探头、计算机、测试软件、 IC测试板、频谱分析仪、控制电源。

• 集成电路的抗干扰性
• 测试项目与标准：
• 静电放电耦合
• 集成电路板-静电放电产生的电骚扰试验要求
•         IEC 62132 用于集成电路静电放电测试
• 电快速瞬变脉冲耦合
•         IEC 62215 用于集成电路脉冲抗扰度测试，包括以下两种方法：
•      第一：传导抗扰度测量方法——同步脉冲注入法;
•      第二：传导抗扰度测量方法——随机脉冲注入法参考（IEC61000-4-2和 IEC61000-4-4）。
• 射频耦合
• IEC 61967 用于射频耦合测试