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ES62X-LVS低压浪涌自动测试系统
ES62X-LVS低压浪涌自动测试系统
ES618 便携式TLP IV-曲线测试分析系统
ES618便携式脉冲 IV-曲线测试分析系统是我们1815年研发的新一代产品。这是一款先进的便携式脉冲IV-曲线特性表征系统,用于模拟静电放电脉冲事件,例如 TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT, 和 低压浪涌。系统会检测脉冲期间皮秒或纳秒级的瞬态电压和电流波形,并测试脉冲前、后被测器件的状态(漏电流,击穿电压,偏置电流,静态IV曲线,等)。可测的DUT包括静电防护器件,半导体,电路模块,触摸板传感器等。
特点:
配置灵活的TLP IV曲线脉冲测试分析系统
超便携设计
超快测试速度,程序并行处理
目前测试版本有 25 A, 50 A,和100 A 模块
高质量TLP脉冲
可扩展的测试模块包括 vf-TLP, HMM, HBM, 和低压浪涌
自动化故障检测方法包括:
DC 抽查 (电压或电流), 静态IV, 熔融, 击穿, 偏置源波动, 以及客户自定义
软件控制的脉冲注入: 单次, 连续, IV-曲线表征
上升沿选项:60 ps 至 50 ns *(取决于模块)
脉冲宽度选项: 1 ns 至 3180 ns *(取决于模块)
分类: 脉冲IV曲线测试方案标签: HBM, HMM, IV曲线, TLP测试, 低压浪涌, 特色产品, 超快TLP, 静电放电

产品简介

说明

ES618 便携式TLP IV-曲线测试分析系统是1815年研发的新一代产品。这是一套先进的便携式脉冲IV曲线表征系统,用于模拟静电放电脉冲事件,例如TLP,Vf-TLP,HMM,HBM,EFT,以及低压浪涌。该系统可以监测脉冲发生时,Ps或ns量级的瞬态电压和电流波形,并测试DUT在测试前、后的状态(漏电流、击穿电压、静态IV曲线等)。可测试的DUT包括静电防护器件、半导体、电路模块、触摸板传感器等。
系统的传输线脉冲(TLP)测试和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-1814测试标准。ES618系统能够向器件注入高质量矩形波脉冲,同时记录流经器件的电流和器件两端电压。测试结果能够提供脉冲IV曲线,使用户能够表征器件在纳秒级的瞬态响应。系统还具有先进的器件失效自动化检测方法,例如漏电流测试,静态IV曲线,熔断和火花放电。
超快TLP(vf-TLP)测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-1807测试标准。vf-TLP 测试用于模拟CDM速度的静电放电,捕捉高速(大约100ps上升沿)状态下器件的电流和电压。用户可以通过这种方法测试器件的响应速度和峰值电压。
人体金属模型(HMM)测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.6-1809测试方法。该方法可以替代IEC61000-4-2中系统级ESD测试方法,用于测试IC。当测试低阻抗器件或者晶圆时,系统的该测试功能可以提供符合IEC61000-4-2标准的理想波形,并且避免许多静电放电枪测试时可能出现的问题,例如可重复性差,放电位置不精确,由未屏蔽继电器产生的EMI互扰,需要设置大接地平板和耦合板。
系统有完整的软件控制,可定制上升沿时间和脉冲宽度,与IVI仪器有良好的兼容性,体积小,价格优惠。
ES618 TLP测试系统符合下列国际测试标准:
ANSI/ESD STM5.5.1-1814 – Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing – Transmission Line Pulse (TLP) – Component Level
ANSI/ESD SP5.5.2-1807 – Electrostatic Discharge (ESD) Sensitivity Testing – Very Fast Transmission Line Pulse (VF-TLP) – Component Level
ANSI/ESD SP5. 6-1809 – Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Human Metal Model (HMM) – Component Level
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-1814 – Electrostatic Discharge Sensitivity Testing – Human Body Model (HBM) – Component Level.

3.规格

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